Stol za ispitivanje udara sa visokim ubrzanjem, sistem za ispitivanje na udar je dizajniran za elektronske komponente, instrumente i mehaničke proizvode kako bi pružio opremu za simulirano ispitivanje okruženja udara, u procesu transporta, korištenje proizvoda da izdrži osnovu stepena oštećenja od udara, može završiti pola sinusnog vala (osnovni talas), pilasti talas nakon vrha, trapezoidni talas; Relevantni zahtjevi za ispitivanje udarom tri impulsa. SS-10 stol za ispitivanje na udar uglavnom se koristi za ispitivanje na udar malih i srednjih proizvoda kako bi se procijenila sposobnost testnih proizvoda da izdrže oštećenja od udara. Često se koristi u elektronskim komponentama, elektronskim pločama i drugim ekološkim testovima. Oprema za ispitivanje je u skladu sa uslovima ispitivanja mehaničkog udara metode 213 u standardu GJB 360A-96, GB/T2423.5-1995 “Osnovne procedure ispitivanja životne sredine za električne i elektronske proizvode Test Ea: Metoda ispitivanja na udar” i “IEC68-2-27, Test Ea: Udar”; Zahtjevi specifikacije UN38.3 i “MIF-STD202F” za ispitivanje na udar.